Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Пособие посвящено одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Оно предназначено для студентов старших курсов высших учебных заведений. В нем рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ). Несмотря на свою простоту, конструирование и изготовление сканирующих туннельных микроскопов (СТМ) до сих пор остается трудной задачей. Существует небольшое количество лабораторий, располагающих СТМ, которые работали бы с истинно атомным разрешением. Пособие посвящено разработке методики СТМ высокоомных материалов (полупроводников), реализуемой благодаря использованию термостолика для нагрева образца и чувствительной фемто-СТМ измерительной головки.